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T-4｜JASAパビリオン
IoT、組み込み機器などの全ての電子機器用の自動テストソリューションを展示します。
計測器との接続を自動切換え、センサーエミュレーションによるテスト条件の自動入力をPXI、LXIモジュールを活用して実現して、ソフトウェアのテストと検証の工数を削減できます。
また、BGAパッケージのFPGA、マイコン、DDRメモリを実装した基板を検査するためのJTAGテスト/バウンダリスキャンテストシステム「JTAG ProVision」を展示します。
下記情報は来場者から出展者への事前アポイント・問合せを目的に公開しています。
それ以外の目的（セールス等）で無断に使用・転載する事を固く禁じます。
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