D-20 株式会社アストロン

N 新製品

設計データ（GDSⅡ)と故障解析装置（エミッション顕微鏡）、電子顕微鏡（SEM、FIB、プローバー）のリンケージがとれるシステム最新版がリリース致しました。また周辺ツールとしてCADや電子顕微鏡像からの3次元解析が行えます。