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メトリクスによるソフトウェア品質評価と改善
品質測定評価の落とし穴とコツ
設計や実装の品質改善には定量評価が欠かせない。しかし思慮なく測定評価を導入すると誤った結論を導くなど悪影響をもたらしかねない。そこで最初に、メトリクスの理論と規模・複雑さといった基本的な測定、および、組込みソフトウェア開発における設計やソースコードを対象とした品質評価、改善の流れを解説する。そのうえで実践上の4つの「落とし穴」と7つの「コツ」を解説し、その一つとして目標に沿った多面的測定をもたらすゴール指向の手法Goal-Question-Metric(GQM)法を、事例を交えて詳しく解説する。
鷲崎 弘宜
早稲田大学 グローバルソフトウェアエンジニアリング研究所所長・教授／国立情報学研究所客員教授／株式会社システム情報 取締役（監査等委員）
早稲田大学グローバルソフトウェアエンジニアリング研究所所長・教授、国立情報学研究所客員教授、株式会社システム情報 取締役（監査等委員）。著書に『ソフトウェアパターン』『ソフトウェア品質知識体系ガイドSQuBOK Guide』、訳書に『演習で学ぶソフトウエアメトリクスの基礎』など。IEEE CS Japan Chapter Vice-Chair, SEMAT Japan Chapter Chair, IPSJ SamurAI Coding Director, ISO/IEC/JTC1 SC7/WG20 Convenor, IEEE ICST 2017 PC Co-Chair, IEEE CSEE&T 2017 PC Co-Chair, IEEE COMPSAC 2018 Local Chair, APSEC 2018 PC Co-Chair ほか。
